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標題: MTBF Demostration 測試的失效數 [打印本頁]

作者: Peter_Ju 時間: 2012-8-29 22:10:50 標題: MTBF Demostration 測試的失效數

報告各位長官
小弟的客戶最近遇到一個問題
他們在作MTBF Demostration時,所測試的機台,在不同的時間點出現了同樣的fail
舉例來說: 測試第一周, 32台NB中一台Clock IC 失效, 測試第二周, Clock IC 又有一台失效
他們認為failure count 應該是"1", 因為都是同樣的失效
但是小弟認為這樣應該算是2個失效
請問各位長官
小弟是對的嗎.....@@~

作者: Astro_tsai 時間: 2012-8-30 09:53:44

Peter, 這我來回就好了
同一種類cloak IC fail, 所以算同一種失效模式
但是失效數(r) 要算2, 第二次fail.

作者: andyborger 時間: 2012-8-30 09:54:23

如果有找出root cause，導入solution後可使Clock IC不再失效，我會算0失效，否則我們公司是算2個失效

作者: liaojenyi 時間: 2012-8-30 19:01:07

如果找出root cause，亦導入solution於後續試件，這屬可靠度成長試驗。MTBF會隨改進過程而逐漸增加。

作者: Peter_Ju 時間: 2012-9-6 11:58:22

那請問廖博...那小弟要因此改變計算壽命的方式或參數嗎?

作者: liaojenyi 時間: 2012-9-8 19:16:38

參考2F Astro_tsai之回覆

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