睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum）

標題: <轉載>揭開JEDEC Standard面紗 Part I: 產品壽命及失效率的估算 [打印本頁]

作者: hlperng 時間: 2012-1-17 14:11:49 標題: <轉載>揭開JEDEC Standard面紗 Part I: 產品壽命及失效率的估算

本帖最後由 hlperng 於 2012-1-17 14:23 編輯

課程主題：揭開JEDEC Standard面紗Part I：產品壽命及失效率的估算

課程內容：

1. 半導體可靠度定義與數據特性
2. 機率與統計概論
3. 常用可靠度機率分佈(對數常態、韋伯、指數、伽瑪壽命分佈、常態分佈、卡方分佈；波桑過程、柏努利過程)
4. 壽命評估(點推定、區間推定、抽樣檢定、試驗樣本數決定)
5. 實驗設計
6. 討論

課程時間：101/02/14、101/02/21(週二) 18:30~21:30，2次共6小時

課程地點：新竹市光復路二段101號研發大樓

主辦單位：財團法人自強工業科學基金會

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