睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum）

標題: 報告：以失效機制模擬為基礎之壽命評估方法 [打印本頁]

作者: function 時間: 2012-3-30 12:59:11 標題: 報告：以失效機制模擬為基礎之壽命評估方法

本帖最後由 hlperng 於 2014-10-28 20:38 編輯

上星期在讀書會有談到除了加速壽命試驗之外，也可以模擬的方法來評估壽命，但是沒有詳細說明，
剛好想到在第4屆可靠度研討會有發表過這個文章，在這裡分享給大家。[attach]64[/attach]

作者: Astro_tsai 時間: 2012-3-30 15:05:19

感謝老師分享

作者: annp 時間: 2012-3-30 17:49:18

謝謝老師的分享
老師每年會在園區科管局協助開類似課程
不知道今年會有嗎 ?

作者: function 時間: 2012-3-30 20:55:14

我不知道喔，
都是他們聯絡我，
今年到目前為止還沒有聯絡。

作者: Forst 時間: 2012-4-1 00:23:09

謝謝老師分享

作者: Shu 時間: 2012-4-2 22:32:47

謝謝老師的分享

作者: Eric 時間: 2012-4-3 12:48:17

感謝老師的分享(^^")

作者: fusam177 時間: 2012-4-5 09:57:53

感謝老師分享，剛接觸這方面需要大量的資料來學習。

作者: abdur32 時間: 2012-4-25 21:01:16

謝謝老師分享
一直想多上點關於可靠度的課程
只是好像有開課的地方並不多
主要是人也在北部
不知道今年下半年會不會開可靠度的課程

作者: hlperng 時間: 2012-4-26 09:16:37

本帖最後由 hlperng 於 2012-4-26 09:41 編輯

2000年以後的可靠度技術發展如同過往，還是以電子產品為主，而半導體產品主導著所有電子產品的發展方向。

主導商用與工業用半導體產品的JEDEC所發行的JESD 47: "Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits"，從2003年的B版到2011的H版，8年6次改版都是在反映失效機制與半導體產品可靠度的密切關係，搭配JESD 85: "Methods for Calculating Failure Rate in Units of FITs"，利用壽命試驗數據估算產品失效率(fit)值，對於各種試驗應力與壽命之間的加速因子，提供模型與案例，是值得學習的技術資料。

美國車輛電子委員會(Automotive Electronics Council, AEC)出版的車用積體電路鑑定標準的名稱，2007年由2000年D版改版為E版時，將"Stress-Test Qualification for Integrated Circuits"改成"Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits"，也可看出失效機制對於可靠度評估的重要性。

2004年、2009年及2010年由法國空中巴士集團所發行FIDES可靠度方法，所提供使用應力與零件失效率之間關係的預估公式，同樣強調失效機制在可靠度預估技術應用所扮演的角色。

2005年(?)美國國防部準備讓217復活，找威利實驗室(Wyle Lab.)、海軍NSWC(機械可靠度預估手冊主編)、賓州大學、馬里蘭大學的可靠度專家，成立專案計畫進行217改版。這些單位都是從工程技術觀點處理可靠度的議題，或許這也是一種主流趨勢。

可靠度議題綜合物理、工程、與統計等領域，這些由系統工程主導，結合失效機制(物理)與可靠度評估(統計)技術的新趨勢，如何分享與學習，或許可以繼續當作讀書會的主要議題！

作者: yuhsuanting 時間: 2013-6-26 09:44:05

謝謝老師的分享

希望給予更多的資訊

作者: kun54500 時間: 2015-12-30 09:37:25

謝謝老師的分享~~~
^_^

歡迎光臨睿地可靠度論壇（TW-REDI Forum） (http://m1.kdi.tw/)