查看: 26086|回復: 11

報告：以失效機制模擬為基礎之壽命評估方法 [複製鏈接]

function

版主

Rank: 7 Rank: 7 Rank: 7

UID: 4
帖子: 186
主題: 55
記錄: 0
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 100
最後登錄: 2023-10-27
在線時間: 795 小時

電梯直達

樓主

發表於 2012-3-30 12:59:11 |只看該作者 |倒序瀏覽

本帖最後由 hlperng 於 2014-10-28 20:38 編輯

上星期在讀書會有談到除了加速壽命試驗之外，也可以模擬的方法來評估壽命，但是沒有詳細說明，
剛好想到在第4屆可靠度研討會有發表過這個文章，在這裡分享給大家。

附件: 你需要登錄才可以下載或查看附件。沒有帳號？立即註冊

分享0 收藏3 分享傳送邀請

舉報

Astro_tsai

金牌會員

Rank: 6 Rank: 6

UID: 24
帖子: 55
主題: 13
記錄: 0
分享: 0
日誌: 2
閱讀權限: 70
最後登錄: 2014-1-17
在線時間: 69 小時

沙發

發表於 2012-3-30 15:05:19 |只看該作者

感謝老師分享

PEGATRON QTR

舉報

annp

版主

Rank: 7 Rank: 7 Rank: 7

UID: 10
帖子: 14
主題: 4
記錄: 8
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 100
最後登錄: 2023-2-26
在線時間: 110 小時

板凳

發表於 2012-3-30 17:49:18 |只看該作者

謝謝老師的分享
老師每年會在園區科管局協助開類似課程
不知道今年會有嗎 ?

舉報

function

版主

Rank: 7 Rank: 7 Rank: 7

UID: 4
帖子: 186
主題: 55
記錄: 0
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 100
最後登錄: 2023-10-27
在線時間: 795 小時

地板

發表於 2012-3-30 20:55:14 |只看該作者

我不知道喔，
都是他們聯絡我，
今年到目前為止還沒有聯絡。

舉報

Forst

初級會員

Rank: 3 Rank: 3

UID: 15
帖子: 10
主題: 1
記錄: 2
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 20
最後登錄: 2015-6-24
在線時間: 11 小時

5^#

發表於 2012-4-1 00:23:09 |只看該作者

謝謝老師分享

舉報

Shu

版主

Rank: 7 Rank: 7 Rank: 7

UID: 11
帖子: 45
主題: 36
記錄: 3
分享: 0
日誌: 1
閱讀權限: 100
最後登錄: 2022-3-10
在線時間: 148 小時

6^#

發表於 2012-4-2 22:32:47 |只看該作者

謝謝老師的分享

Dear all: 彭老師、許老師與同學們，新的一年又到來了，大家都在自己的工作崗位上努力著，祝福大家在新的一 ...

舉報

Eric

金牌會員

Rank: 6 Rank: 6

UID: 32
帖子: 10
主題: 0
記錄: 1
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 70
最後登錄: 2022-8-20
在線時間: 7 小時

7^#

發表於 2012-4-3 12:48:17 |只看該作者

感謝老師的分享(^^")

舉報

fusam177

初級會員

Rank: 3 Rank: 3

UID: 71
帖子: 4
主題: 0
記錄: 0
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 20
最後登錄: 2020-4-14
在線時間: 11 小時

8^#

發表於 2012-4-5 09:57:53 |只看該作者

感謝老師分享，剛接觸這方面需要大量的資料來學習。

舉報

abdur32

新手上路

Rank: 1

UID: 59
帖子: 1
主題: 0
記錄: 0
分享: 0
日誌: 0
閱讀權限: 10
最後登錄: 2013-9-5
在線時間: 0 小時

9^#

發表於 2012-4-25 21:01:16 |只看該作者

謝謝老師分享
一直想多上點關於可靠度的課程
只是好像有開課的地方並不多
主要是人也在北部
不知道今年下半年會不會開可靠度的課程

舉報

hlperng

版主

Rank: 7 Rank: 7 Rank: 7

UID: 5
帖子: 1525
主題: 739
記錄: 1
分享: 0
日誌: 213
閱讀權限: 100
最後登錄: 2024-10-15
在線時間: 2326 小時

10^#

發表於 2012-4-26 09:16:37 |只看該作者

本帖最後由 hlperng 於 2012-4-26 09:41 編輯

2000年以後的可靠度技術發展如同過往，還是以電子產品為主，而半導體產品主導著所有電子產品的發展方向。

主導商用與工業用半導體產品的JEDEC所發行的JESD 47: "Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits"，從2003年的B版到2011的H版，8年6次改版都是在反映失效機制與半導體產品可靠度的密切關係，搭配JESD 85: "Methods for Calculating Failure Rate in Units of FITs"，利用壽命試驗數據估算產品失效率(fit)值，對於各種試驗應力與壽命之間的加速因子，提供模型與案例，是值得學習的技術資料。

美國車輛電子委員會(Automotive Electronics Council, AEC)出版的車用積體電路鑑定標準的名稱，2007年由2000年D版改版為E版時，將"Stress-Test Qualification for Integrated Circuits"改成"Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits"，也可看出失效機制對於可靠度評估的重要性。

2004年、2009年及2010年由法國空中巴士集團所發行FIDES可靠度方法，所提供使用應力與零件失效率之間關係的預估公式，同樣強調失效機制在可靠度預估技術應用所扮演的角色。

2005年(?)美國國防部準備讓217復活，找威利實驗室(Wyle Lab.)、海軍NSWC(機械可靠度預估手冊主編)、賓州大學、馬里蘭大學的可靠度專家，成立專案計畫進行217改版。這些單位都是從工程技術觀點處理可靠度的議題，或許這也是一種主流趨勢。

可靠度議題綜合物理、工程、與統計等領域，這些由系統工程主導，結合失效機制(物理)與可靠度評估(統計)技術的新趨勢，如何分享與學習，或許可以繼續當作讀書會的主要議題！

舉報

12 下一頁

返回列表

		自動登錄	找回密碼
密碼			立即註冊