AEC-Q200《被動元件應力試驗鑑定》(Stress Test Qualification for Passive Components)

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AEC-Q200 由汽車電子協會 (Automotive Electronics Council, AEC) 零件技術委員會 (Component Technical Committee) 負責擬訂，規定被動電子零件的鑑定要求，符合 AEC-Q200 標準表示零件可以耐受嚴苛的汽車環境，不必要再執行其他零件層級的鑑定測試。

AEC 是由美國克萊斯勒(Chrysler)、福特(Ford)、通用汽車(GM)三大車廠，在 1994 年所發起成立的協會，目前會員遍及全球各大汽車廠、汽車電子與半導體廠商。

AEC-Q200 適用的被動零件試驗總共有 36 項，適用的被動電子零件包括：鉭質與陶瓷電容器、陶瓷 C0G SMD 電容器、陶瓷 X7R 及 X5R SMD 電容器、鉭質與氧化鈮電容器、鋁電解電容器、薄膜電容器、磁性零件（電感器與變壓器）、網路電容與電阻器、電阻器、碳膜引線固定電阻器、金屬膜引線固定電阻器、氧化鐵引線固定電阻器、繞線引線固定電阻器、SMD 晶片電阻器、熱敏電阻器、微調電容器與電阻器、變阻器、石英振盪器、陶瓷諧振器、鐵氧體EMI抑制器/濾波器、聚合物可重置保險絲等。

• AEC-Q200- 版：1995-04-30
• AEC-Q200A 版：1997-06-16
• AEC-Q200B 版：2000-03-15
• AEC-Q200C 版：2005-06-17
• AEC-Q200D 版：2010-06-01
  

AEC 依照被動電子零件的溫度分等級，目前版本（2010年版）總共分為 5 級，2000 年 B 版以前的版本分為 1、2、3 等三級，2005 年 C 版以後的版本，增加第 0 級及第 4 級。

等級	最小溫度	最大溫度	被動零件型式 最大容量，除非另有規定和鑑定	典型應用範例
0	-50 oC	+150 oC	覆晶陶瓷電阻器、X8R 陶瓷電容器	所有汽車位置
1	-40 oC	+125 oC	網路電容器、電阻器、電感器、變壓器、 熱敏電阻器、振盪器、石英與變阻器、 所有其他陶瓷與鉭質電容器	大部份位於引擎區
2	-40 oC	+105 oC	鋁電解電容器	乘客區熱點位置
3	-40 oC	+105 oC	薄膜電容器	大部分乘客區
4	0 oC	+ 70 oC		非汽車用

目錄
1.0 範圍 (scope)
1.1 說明 (description)
1.2 引用文件 (reference documents)
2.0 一般要求 (general requirements)
2.1 目的 (objective)
2.2 要求之優先次序 (precedence of requirements0
2.3 使用通用資料以滿足鑑定與重鑑定要求 (the use of generic data to satisfy qualification and requalification requirements)
2.4 試驗樣本 (test samples)
2.5 施加應力之後失效定義 (definition of test failure after stressing)
2.6 通過鑑定之準則 (criteria for passing qualification)
2.7 替代測試要求 (alternative testing requirements)
3.0 鑑定與重鑑定 (qualiifcation and requalification)
3.1 新裝置鑑定 (qualification of a new device)
3.2 無鉛裝置鑑定 (qualification of a lead (Pb)-free device
3.3 裝置之重鑑定 (requalification of a device)
4.0 鑑定試驗 (qualification tests)
4.1 一般試驗 (general tests)
4.2 裝置特定試驗 (device specific tests)
4.3 資料提交格式 (data submission format)
附錄
附錄 1：鑑定群組定義 (definition of a qualification family)
附錄 2：設計、構裝與鑑定驗證 (design, construction and qualification verification)
附件
附件 1：AEC-Q200-001，火燄延遲性 (flame retardance)
附件 2：AEC-Q200-002，靜電放電人體模型試驗 (human bady model electrostatic discharge test)
附件 3：AEC-Q200-003，支梁負荷（斷裂強度）試驗 [beam load (break strength) test]
附件 4：AEC-Q200-004，可重設保險絲試驗 (resettable fuse test)
附件 5：AEC-Q200-005，軟性電路板端子接合強度試驗 (board flex / terminal bond strength test)
附件 6：AEC-Q200-006，表面黏著端子強度剪應力試驗
附件 7：AEC-Q200-007，電壓浪湧試驗 (voltage surge test)
AEC-Q005，無鉛要求 (Pb-Free Requirements)