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報告：以失效機制模擬為基礎之壽命評估方法 [複製鏈接]

function

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電梯直達

樓主

發表於 2012-3-30 12:59:11 |只看該作者 |倒序瀏覽

本帖最後由 hlperng 於 2014-10-28 20:38 編輯

上星期在讀書會有談到除了加速壽命試驗之外，也可以模擬的方法來評估壽命，但是沒有詳細說明，
剛好想到在第4屆可靠度研討會有發表過這個文章，在這裡分享給大家。

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Astro_tsai

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沙發

發表於 2012-3-30 15:05:19 |只看該作者

感謝老師分享

PEGATRON QTR

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annp

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板凳

發表於 2012-3-30 17:49:18 |只看該作者

謝謝老師的分享
老師每年會在園區科管局協助開類似課程
不知道今年會有嗎 ?

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function

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地板

發表於 2012-3-30 20:55:14 |只看該作者

我不知道喔，
都是他們聯絡我，
今年到目前為止還沒有聯絡。

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Forst

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5^#

發表於 2012-4-1 00:23:09 |只看該作者

謝謝老師分享

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Shu

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6^#

發表於 2012-4-2 22:32:47 |只看該作者

謝謝老師的分享

Dear all: 彭老師、許老師與同學們，新的一年又到來了，大家都在自己的工作崗位上努力著，祝福大家在新的一 ...

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Eric

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7^#

發表於 2012-4-3 12:48:17 |只看該作者

感謝老師的分享(^^")

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fusam177

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8^#

發表於 2012-4-5 09:57:53 |只看該作者

感謝老師分享，剛接觸這方面需要大量的資料來學習。

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abdur32

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9^#

發表於 2012-4-25 21:01:16 |只看該作者

謝謝老師分享
一直想多上點關於可靠度的課程
只是好像有開課的地方並不多
主要是人也在北部
不知道今年下半年會不會開可靠度的課程

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hlperng

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10^#

發表於 2012-4-26 09:16:37 |只看該作者

本帖最後由 hlperng 於 2012-4-26 09:41 編輯

2000年以後的可靠度技術發展如同過往，還是以電子產品為主，而半導體產品主導著所有電子產品的發展方向。

主導商用與工業用半導體產品的JEDEC所發行的JESD 47: "Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits"，從2003年的B版到2011的H版，8年6次改版都是在反映失效機制與半導體產品可靠度的密切關係，搭配JESD 85: "Methods for Calculating Failure Rate in Units of FITs"，利用壽命試驗數據估算產品失效率(fit)值，對於各種試驗應力與壽命之間的加速因子，提供模型與案例，是值得學習的技術資料。

美國車輛電子委員會(Automotive Electronics Council, AEC)出版的車用積體電路鑑定標準的名稱，2007年由2000年D版改版為E版時，將"Stress-Test Qualification for Integrated Circuits"改成"Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits"，也可看出失效機制對於可靠度評估的重要性。

2004年、2009年及2010年由法國空中巴士集團所發行FIDES可靠度方法，所提供使用應力與零件失效率之間關係的預估公式，同樣強調失效機制在可靠度預估技術應用所扮演的角色。

2005年(?)美國國防部準備讓217復活，找威利實驗室(Wyle Lab.)、海軍NSWC(機械可靠度預估手冊主編)、賓州大學、馬里蘭大學的可靠度專家，成立專案計畫進行217改版。這些單位都是從工程技術觀點處理可靠度的議題，或許這也是一種主流趨勢。

可靠度議題綜合物理、工程、與統計等領域，這些由系統工程主導，結合失效機制(物理)與可靠度評估(統計)技術的新趨勢，如何分享與學習，或許可以繼續當作讀書會的主要議題！

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